Atómový silový mikroskop

Funkcia a využitie:Atomic force microscop (AFM) spolu s riadiacim programovým zabezpečením a prostriedkami spracovania AFM-zobrazení je určený na meranie mikro a submikroreliéfu povrchov, objektov mikro a nanometrových rozsahov s vysokým rozlíšením.
Oblasti použitia AFM sú fyzika pevných materiálov, tenkovrstvové technológie, nanotechnológie, mikro a nanotribológia, mikroelektronika, optika, precízna mechanika, magnetické nahrávanie, vákuová technika atď. AFM môžeme používať tak vo vedeckých ako aj v priemyselných laboratóriách.
Technická špecifikácia:•    operačné módy – statický mód  a dynamický mód
•    maximálna snímacia plocha – 20 x 20 x 3 mm
•    počet snímaných bodov  – 1024 x 1024 bodov
•    snímacia rýchlosť – 10 mm/s
•    maximálna veľkosť snímanej vzorky – 30 x 30 x 8 mm
•    maximálny možný posuv  v rovine x-y – 10 x 10 mm
•    zorné pole video systému – 1 x 0,75 mm
•    pracovné prostredie – vzduch, laboratórna teplota
Model:AFM NT – 206
Umiestnenie prístroja:FPT TnUAD, Púchov
Zodpovedný pracovník:Ing. Dana Bakošová, PhD.
e-mail: dana.bakosova@tnuni.sk
tel.: +421  42 2851869, +421 32 7400 869
Operátori: Ing. Jana Pagáčová, PhD.
Katalóg kooperačných možností
1. vydanie
2. vydanie