XPS Spektrometer

Funkcia a využitie:Predmetom zákazky je XPS spektrometer – povrchový analyzátor, ktorý by mal pri analýze využívať metódu vysokého rozlíšenia pomocou vysokoenergetického prvkovo charakteristického röntgenového žiarenia, tj. vysoko energetických fotónov.
Technická špecifikácia:

"Nízko príkonový, monochromatizovaný zdroj žiarenia na báze vodou chladenej Al pokrytej anódy
Monochromátory Rowlandovho typu, najmenej 0,25 m
Kremenný torodiálny monokryštál s troma stupňami nastavenia polohy riadené pomocou SW
Užívateľský výber veľkosti X-spotu v rozsahu 15 m až 400 mikrometrov meniteľného po kroku najviac 8 mikrometrov
Monochromátor röntgenového žiarenia nesmie mať žiadne okienko, cez ktoré musí lúč prechádzať pred dopadom na vzorku, aby nedochádzalo k zníženiu citlivosti prístroja
Monochromátor vybavený zariadením pre potlačenie nežiadúcich vysokoenergetických elektrónov dopadajúcich na vzorku analyzovanej časti vzorky
pre zaistenie minimálnej deštrukcie analyzovanej vzorky, zdroj X-žiarenia s príkonom maximálne 75 W.
Pre XPS spektroskopiu, energetické rozlíšenie (šírka píku v polovičnej výške, „full width at half-maximum“ – FWHM)"

Model:XPS spektrometer Nexsa
Umiestnenie prístroja:FunGlass
Zodpovedný pracovník:

Amirhossein Pakseresht: amir.pakseresht@tnuni.sk

Hradené z projektu:CEDITEK II.
Operátori:
Katalóg kooperačných možností
1. vydanie
2. vydanie