Elektrónová mikroskopia - Skenovací elektrónový mikroskop s EDS analyzátorom

Funkcia a využitie:Laboratórny skenovací elektrónový mikroskop na analýzu mikroštruktúry a chemickú mikroanalýzu materiálov s modulom umožňujúcim schladenie (zmrazenie) vzoriek na nízke teploty, umožňujúcim merať vzorky citlivé aj na tlak alebo teplotu, napríklad biologické preparáty a biomateriály obsahujúce biopolyméry.
Technická špecifikácia:rozlíšenie minimálne 3 nm a pri urýchľovacom napätí 3 kV minimálne rozlíšenie 8 nm, stanovené podľa ISO/TS 24597:2011
-  minimálne priame zväčšenie v rozsahu minimálne od 7x až 300 000x,
-  1 EDS detektor umožňujúcim detekciu prvkov v rozsahu minimálne od Be po U,
-  1 „Backscatter electron detektor“ (BSD) umožňujúci získavať informácie o kryštalografickej mikroštruktúre vzoriek,
-  1 detektor sekundárnych elektrónov (SE) v celom rozsahu požadovaných tlakov pre „high vacuum“ aj „low vacuum“,
- možnosť merania v premenlivom vákuu, pri tlaku ≤ 400 Pa, prípadne v móde „low vacuum“ s možnosťou merania pri tlakoch ≤ 650 Pa,
- možnosť merania vzoriek s priemerom minimálne 230 mm a výškou vzorky maximálne 100 mm,
Model:JEOL  JSM-IT500LA Analytical Scanning Electron Microscope
Umiestnenie prístroja:Funglass
Zodpovedný pracovník:Peter Švančárek: peter.svancarek@tnuni.sk
Operátori:
Katalóg kooperačných možností
1. vydanie
2. vydanie