Laboratórium atómovej mikroskopie

Atómová silová mikroskopia (AFM) spolu s riadiacim programovým zabezpečením a prostriedkami spracovania je určená na meranie mikro- a submikroreliéfu povrchov, objektov mikro- a nanometrových rozsahov s vysokým rozlíšením. Oblasti použitia AFM sú fyzika pevných materiálov, tenkovrstvové technológie, nanotechnológie, mikro a nanotribológia, mikroelektronika, optika, výskum precíznej mechaniky, magnetické nahrávanie, vákuová technika atd. AFM je možné využiť vo vedeckých aj v priemyselných laboratóriách.

Prístrojové vybavenie:

atómový silový mikroskop NT-206
riadiaca jednotka
PC

Skúšobné metódy:

Skenovanie matrice – meranie vybranej plochy povrchu
Dvojnásobné skenovanie – špeciálna SSM metodika umožňujúca skenovanie jednej plochy v dvoch smeroch na získanie najprv zobrazenia topografie a potom zobrazenia kontrastu
Mnohovrstvové skenovanie – špeciálna metodika automatického merania súboru AFM slúžiaca na zobrazenie jednej plochy s rôznymi hodnotami parametra určujúceho rozsah ohybu meracej konzolky
Spektroskopia v bode – spektroskopické meranie vo vybranom bode meranej plochy. Funkcia silovej spektroskopie sa využíva na presné nastavenie meracieho systému (statická silová spektroskopia alebo meranie kriviek “sila – vzdialenosť”), a tiež ako špeciálna metodika na získanie informácií o vlastnostiach a zložení povrchu vzorky (statická a dynamická silová spektroskopia)

Druhy zobrazenia:

Statický režim:

Topography – topografia povrchu
Deflection –vychýlenie (ohyb) meracej sondy
Torsion – skrútenie (torzia) meracej sondy

Dynamický režim:

Topography– topografia povrchu
Amplitude – amplitúda kmitov meracej sondy
Phase – fázový posuv meracej sondy

Výsledky a štúdie:

Výskumné práce boli zamerané na sledovanie morfológie, topografie – Rms drsnosť, priemerná výška nerovnosti, spektroskopie v bode – adhézna sila, tuhosť a vyšetrovanie modulov pružnosti v ťahu kaučukových zmesí s rôznymi plnivami (tmavé plnivá, svetlé plnivá, nanorúrky), plastov, ako sú polypropylén a polyetylén, TiO2, SiO2a anorganicko-organických vrstiev pripravených zo sólov metódou sól-gél, kovových materiálov – meď, hliník, oceľ. Výskum bol obsahovou náplňou a súčasťou riešenia výskumných prác realizovaných na pracovisku v rámci riešenia projektov VEGA a APVT.