XPS Spektrometer

Funkcia a využitie:	Predmetom zákazky je XPS spektrometer – povrchový analyzátor, ktorý by mal pri analýze využívať metódu vysokého rozlíšenia pomocou vysokoenergetického prvkovo charakteristického röntgenového žiarenia, tj. vysoko energetických fotónov.
Technická špecifikácia:	"Nízko príkonový, monochromatizovaný zdroj žiarenia na báze vodou chladenej Al pokrytej anódy Monochromátory Rowlandovho typu, najmenej 0,25 m Kremenný torodiálny monokryštál s troma stupňami nastavenia polohy riadené pomocou SW Užívateľský výber veľkosti X-spotu v rozsahu 15 m až 400 mikrometrov meniteľného po kroku najviac 8 mikrometrov Monochromátor röntgenového žiarenia nesmie mať žiadne okienko, cez ktoré musí lúč prechádzať pred dopadom na vzorku, aby nedochádzalo k zníženiu citlivosti prístroja Monochromátor vybavený zariadením pre potlačenie nežiadúcich vysokoenergetických elektrónov dopadajúcich na vzorku analyzovanej časti vzorky pre zaistenie minimálnej deštrukcie analyzovanej vzorky, zdroj X-žiarenia s príkonom maximálne 75 W. Pre XPS spektroskopiu, energetické rozlíšenie (šírka píku v polovičnej výške, „full width at half-maximum“ – FWHM)"
Model:	XPS spektrometer Nexsa
Umiestnenie prístroja:	FunGlass
Zodpovedný pracovník:	Amirhossein Pakseresht: amir.pakseresht@tnuni.sk
Hradené z projektu:	CEDITEK II.
Operátori: