Atómový silový mikroskop
| Funkcia a využitie: | Atomic force microscop (AFM) spolu s riadiacim programovým zabezpečením a prostriedkami spracovania AFM-zobrazení je určený na meranie mikro a submikroreliéfu povrchov, objektov mikro a nanometrových rozsahov s vysokým rozlíšením. Oblasti použitia AFM sú fyzika pevných materiálov, tenkovrstvové technológie, nanotechnológie, mikro a nanotribológia, mikroelektronika, optika, precízna mechanika, magnetické nahrávanie, vákuová technika atď. AFM môžeme používať tak vo vedeckých ako aj v priemyselných laboratóriách. |
| Technická špecifikácia: | • operačné módy – statický mód a dynamický mód • maximálna snímacia plocha – 20 x 20 x 3 mm • počet snímaných bodov – 1024 x 1024 bodov • snímacia rýchlosť – 10 mm/s • maximálna veľkosť snímanej vzorky – 30 x 30 x 8 mm • maximálny možný posuv v rovine x-y – 10 x 10 mm • zorné pole video systému – 1 x 0,75 mm • pracovné prostredie – vzduch, laboratórna teplota |
| Model: | AFM NT – 206 |
| Umiestnenie prístroja: | FPT TnUAD, Púchov |
| Zodpovedný pracovník: | Ing. Dana Bakošová, PhD. e-mail: dana.bakosova@tnuni.sk tel.: +421 42 2851869, +421 32 7400 869 |
| Operátori: | Ing. Jana Pagáčová, PhD. |
