Elektrónová mikroskopia - Skenovací elektrónový mikroskop s EDS analyzátorom
| Funkcia a využitie: | Laboratórny skenovací elektrónový mikroskop na analýzu mikroštruktúry a chemickú mikroanalýzu materiálov s modulom umožňujúcim schladenie (zmrazenie) vzoriek na nízke teploty, umožňujúcim merať vzorky citlivé aj na tlak alebo teplotu, napríklad biologické preparáty a biomateriály obsahujúce biopolyméry. |
| Technická špecifikácia: | rozlíšenie minimálne 3 nm a pri urýchľovacom napätí 3 kV minimálne rozlíšenie 8 nm, stanovené podľa ISO/TS 24597:2011 - minimálne priame zväčšenie v rozsahu minimálne od 7x až 300 000x, - 1 EDS detektor umožňujúcim detekciu prvkov v rozsahu minimálne od Be po U, - 1 „Backscatter electron detektor“ (BSD) umožňujúci získavať informácie o kryštalografickej mikroštruktúre vzoriek, - 1 detektor sekundárnych elektrónov (SE) v celom rozsahu požadovaných tlakov pre „high vacuum“ aj „low vacuum“, - možnosť merania v premenlivom vákuu, pri tlaku ≤ 400 Pa, prípadne v móde „low vacuum“ s možnosťou merania pri tlakoch ≤ 650 Pa, - možnosť merania vzoriek s priemerom minimálne 230 mm a výškou vzorky maximálne 100 mm, |
| Model: | JEOL JSM-IT500LA Analytical Scanning Electron Microscope |
| Umiestnenie prístroja: | Funglass |
| Zodpovedný pracovník: | Peter Švančárek: peter.svancarek@tnuni.sk |
| Operátori: |
